线性直流稳压电源的设计-电子信息毕业论文开题报告

线性直流稳压电源的设计-电子信息毕业论文开题报告本文简介：泰山学院毕业论文（设计）开题报告题目线性直流稳压电源的设计学院物理与电子工程学院年级2012级专业电子信息科学与技术姓名卢会旭学号2012080092指导教师签字学生签字卢会旭2016年3月22日题目来源指导教师推荐自选□其它□(选择时在方框内打√)题目类别基础研究应用研究□其它□(选择时在方框内打

线性直流稳压电源的设计-电子信息毕业论文开题报告本文内容：

泰山学院

毕业论文（设计）开题报告

题

目

线性直流稳压电源的设计

学

院

物理与电子工程学院

年

级

2012级

专

业

电子信息科学与技术

姓

名

卢会旭

学

号

2012080092

指导教师签字

学生签字

卢会旭

2016

年

3

月

22

日

题目来源

指导教师推荐

自选□

其它□

(选择时在方框内打√)

题目类别

基础研究

应用研究□

其它□(选择时在方框内打√)

1、

调研资料的准备

在老师的悉心指导之下，我选择了利用光的干涉测量表面粗糙程度这个课题，然后便开始为论文准备材料。

第一，在对学校的图书馆、阅览室中的相关书籍、杂志、期刊、大学学报等借阅，进行取舍，归纳整理。

第二，利用互联网，上网资料搜索相关的文献资料、论文集等。第三参加相关的实验、试验、调查研究取得第一手资料。在遇到问题是，主动向老师请教。

二、选题依据

表面粗糙度是机械加工中描述表面微观形貌最常用的参数，它反映的是机械零件表面的微观几何形状误差，它对工件的性能有很大影响。随着机械加工业的发展，对工件粗糙程度的测量技术越来越重要。测量分为传统的接触式测量和非接触式测量。接触式测量易划伤材料的试件表面、测量速度较低、而且不易实现自动化在线检测等不足之处，所以非接触测量特别是光学测量法受到了广泛关注。利用光的干涉测量，由于非接触，快速，可在线测量，响应速度快，还具有测量精度高等优点，可测量光学表面既具有较高反射率的表面的粗糙程度。

三、选题目的

1.

提高自己对文献资料的搜索和信息处理能力。

2.

锻炼自己对所学理论知识及技能的综合运用能力。

3.

提高自己的创新能力，培养自己设计创作兴趣。

4.

弥补知识储备不足的缺陷，有针对性地、高效率地获取知识，提高专业能力。

四、选题要求

光学干涉法是利用光波干涉原理来检测表面形貌，激光干涉只能测表面微观形貌的相对高度值，不能进行绝对测量，为了克服此缺点，要求利用白光干涉测量法解决此问题。要求简要介绍传统的测量方法，然后重点介绍光学的干涉的方法。其中白光干涉法是以白光干涉理论为基础，利用一些算法，来精确地得到被测工件的表面微观形貌。利用了双光束白光干涉的特性，通过白光干涉图零级条纹中心位置，根据零级条纹中心移动量来得到被测工件表面粗糙度。

五、进度安排

第一阶段

2011年12月---2012年2月

资料准备阶段

大量阅读与该课题有关的资料及相关的论文，酝酿课题实施方案及相关措施。

第二阶段

2012年3月---2012年4月中旬

初稿写作

根据开题报告及指导教师对课题内容、完成形式的要求，得到相应的资料及结果。及时听取导师的意见，完善方案措施；继续开展研究；争取有一定的成果并完成初稿接受检查。

第三阶段

2012年4月中旬

根据导师对初稿的评定结果进行改进，以利于论文的继续进行。

第四阶段

2012年4月下旬---2012年6月定稿

完成毕业论文的写作并交导师评阅，根据导师提出的要求进行必要修改，进一步完善论文的撰写。

六、完成毕业论文所需条件

在指导教师的帮助下，通过仔细查阅书籍、期刊，进一步在互联网上搜索学习与选题有关的专业知识，完成对相关知识的掌握。

七、主要参考文献

[1]

俞汉清.表面粗糙程度标准及应用[M].北京:中国计量出版社,1997:1-3.

[2]

张锡芳,光学干涉法测量表面粗糙度的研究[D].哈尔滨:哈尔滨工程大学,2006:

37-39.

[3]

陈晓梅,龙祖洪.干涉显微镜测量表面粗糙度条纹的自动处理[J],光子学报.1993,13(11):

1040-1044.

[4]

杨竿.表面粗糙度及表面形状的测量与描述[J].中国计量.1998,2(3):47-48.

[5]

郁道银,谈恒英.工程光学[M].北京:机械工业出版社,2006:306-318.

[6]

曹麟祥,王红.表面粗糙度的现代测量技术[J].测控技术,1992,3(2):17-20.

[7]

黄华惠.光学矩阵方法与傅立叶方法[M].上海:同济大学出版社,1991:4-5.

[8]

波恩,E.沃耳夫.光学原理(第二版)[M]北京:科学出版社,1985:40-46.

[9]

廖廷彪.物理光学[M].北京:北京电子工业出版社,1986:212-217.

[10]

郭彤,胡春光,陈津平.垂直扫描白光干涉术用于微机电系统的尺寸特征[J].光学学报,2007,27(4):

669-670.

[11]

刘云安,李国华,彭捍东.波片组合在调整偏振态势中的应用与分析[J].激光技术,2007,31(4):391-393.

[12]

薛晖,沈伟东,顾培夫等.基于白光干涉的光学薄膜物理厚度测量方法[J].光学学报,2009,29(7):1877-1880.

[13]

李景镇.光学手册[M].西安:陕西科学技术出版社,1986:1303-1308.

评委评语及其建议：

该生的选题，紧扣专业方向，与学习体会结合，参照历史的顺序，阐明光的干涉测量的原理和它的局限性及其发展，并具体分析了光的干涉测量表面粗糙度的方法，这项工作有助于光的干涉测量在波动光学中的重要地位，有助于学生理解光的测量技术，有一定的现实意义，且该同学调研资料准备丰富，进度安排合理，完成任务所需条件具备，同意该学生的开题报告。

评委签字：

学院盖章：

2012年3月15日